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ZEISS METROTOM 800 & 1500

ZEISS METROTOM 800 & 1500 創新技術

ZEISS METROTOM 800/225kV HR

ZEISS METROTOM 800

良好的影像品質

500 W 開放式微聚焦X光管與 1.5 k 檢測器結合使用可提供良好的影像品質,快速的採集和更高的分辨率。直徑為 150 mm的對象可以以 100 µm體素大小進行重建。

開放式的反射式X光管

由於反射式X光管的開放式結構,在正確維護的情況下可以實現無限的使用壽命。另外,所使用的燈管具有非常高的功率(500 W)。這可以實現快速掃描和低噪點影像,以及更密集材料的穿透。

智慧設計

佔地面積小,包括服務區域在內不到 8 平方米,緊湊的設計(機艙內包含控制單元)可在測量實驗室的狹小空間內靈活安裝。系統本身的佔地面積小於 5.9 m²。

檢測中大型零件

對於帶有兩個軸的定位系統,在 5.8 m² 系統區域內,適合該系統的零件最大高度為700 mm。

可靠的測量結果

對於帶有兩個軸的定位系統,在 5.8 m² 系統區域內,適合該系統的零件最大高度為700 mm。

ZEISS METROTOM 1500

ZEISS METROTOM 1500

更好的影像品質

以高解析度可發現到甚至很小的細節。 直徑為15cm的物體能以50μm的體素大小進行重建。

加快掃描速度

探測器的不同操作模式可以大大減少掃描時間,在可相比的體素尺寸下,最高可減少75%。

聰明的結構設計

佔地面積僅為6.7平方米,並且艙門設計巧妙,可在測量實驗室的狹小空間內靈活安裝。

可檢測更大型零件

為了在測量實驗室中充分利用您的空間,我們在減小佔地面積的同時擴展了測量體積。 在6.7m²的面積上測量和檢查1500 mm高的零件,是市面上最好的系統/零件體積比。

可靠的量測結果

定位系統可確保零件在整個視野中的高度精確運動,從而確保MPESD為4.5 + L / 50 µm(VDI / VDE 2630表1.3)。

ZEISS METROTOM 800 & 1500 特性

量測範圍的延展

高度分次掃描的體積合併 Volume Merge(VM)

ZEISS METROTOM量測範圍的延展

虛擬水平檢測器擴展 Virtual Horizontal Detector(VHD)

ZEISS METROTOM 800 & 1500 應用

無損檢測與計量
典型應用產業:消費電子產品

手機或平板電腦內部(BGA、連接器件)高分辨力無損失效分析

手機殼體數模比對

手機殼體數模比對

攝像頭鏡片厚度或間隙測量

攝像頭鏡片厚度或間隙測量

手機殼體尺寸測量

手機殼體尺寸測量

攝像頭鏡片中心偏差或傾斜角度測量

攝像頭鏡片中心偏差或傾斜角度測量

耳機尺寸及裝配分析

耳機尺寸及裝配分析

通用應用產業:汽車零部件
車燈整體掃描及裝配分析

車燈整體掃描及裝配分析

方向盤整體掃描及裝配分析

方向盤整體掃描及裝配分析

METROTOM全系列

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