3D量測｜Alicona Tech News
Alicona3D粗糙度檢測
過往粗糙度檢測常是藉由輪廓儀對物體表面進行刮線檢測，然而這種方式存在許多問題，Bruker Alicona則利用焦距變化（Focus Variation）的技術進行3D的形面及粗糙度掃描，記錄下表面上的三維資訊，使其能更快速、更準確地檢測表面粗糙度。
量測原理
快速且精確地紀錄下物體的表面資訊，是在3D檢測非常重要的要素。
Bruker Alicona的變焦技術，利用彩色CCD Camera配合Z軸的位移，如同斷層掃描般地在各個Z軸的位置擷取最高品質的影像資訊，透過軟體計算將影像轉換為3D的點雲資料，快速掃描並記錄下樣品表面資訊，可同時檢測表面的粗糙度及形面資訊，並可重複檢測已記錄過的表面，提高量測的重複性。
Alicona 3D粗糙度量測特性
A、非接觸式量測
以往的粗糙度檢測多為使用輪廓儀在樣品表面刮出一條線做2D的粗糙度量測。這在量測上往往會有許多限制或缺陷，如：
- 探針的磨損
- 檢測長度的限制
- 量測產生的刮痕
- 無法量測有黏性的樣品
- 觸針頂端尺寸限制
- 量測重複性低
而Alicona使用光學式的非接觸量測，不但可以避免以上的問題，還能利用光學式的原理進行大範圍的量測，提供更詳細及龐大的數據資料。
B、面粗糙度檢測
過往輪廓儀檢測粗糙度是屬於2D的線粗糙度，然而以單一的輪廓線去判斷整個平面的粗糙度往往會有誤判的情況。面粗糙檢測是光學式3D粗糙度檢測的特點，透過快速且大範圍的掃瞄，記錄下樣品表面上的資訊，並對整個表面進行粗糙度的檢測分析，更準確地反映出樣品表面粗糙度的實際情況。
C、形面去除(Form removal)
在量測樣品粗糙度時，遇到最大的問題莫過於粗糙度數據被樣品形面的資訊影響，如量測圓柱形樣品或曲面變化較大的平面時。在Alicona的檢測功能中可將表面上的形面數據去除，僅保留粗糙度資訊，幫助使用者更準確地檢測行面上的粗糙度。
Bruker Alicona長期致力於微觀檢測，透過光學掃描的方式，取得龐大的數據，改善了以往輪廓儀取樣不足的缺點，並能配合後端軟體的運算，去除形面，保留粗糙度資訊，克服輪廓儀在形面上數據失準的狀況，使得Bruker Alicona在粗糙度檢測的應用更加廣泛。
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