2021 年 11 月 26 日

一般光學檢測設備大多採用光照射物件表面，透過光線的反射原理來達到外觀尺寸的量測，
但許多隱藏在內部的特徵往往無法準確進行量測。
而 CT 工業電腦斷層檢測系統，可穿透物體表面看見內部缺陷，由外到內都一目瞭然，
更能批次批量進行檢測，大幅提高效率。